日本電子株式会社より、シンプル操作にこだわった卓上走査電子顕微鏡（卓上SEM）「JCM-7000」が発売されました。
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注目は「光学像を拡大すると、自動でSEM像へ切替わる」こと。
視野探しが簡単になったことで、作業や教育の効率化を目指す現場にとって強い味方となります。
他にも
・前処理いらずの低真空モード
・SEM観察しながらEDS元素分析
・SEM観察しながら凹凸・深さ情報を3D画像で確認
など「簡単に使えるから、高機能を引き出せる」ことを実現しています。
特に見えることが重要な、異物分析や品質管理の分野にお勧めです。
食品異物・ガラス破面・アスベスト混入などの観察例はこちら
初めて電子顕微鏡に触れる方も、リプレースや追加をお考えの方も、是非一度お問い合わせください。
